研究展示
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光の位相で微弱な音を捉えます精密光干渉計による非接触音場計測 
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| どんな研究 |
マイクロホンでは実現困難な多様な音計測を実現する手段として光を用いた方法が注目されています。本研究では、NTT物性科学基礎研究所量子光デバイス研究グループと共同で、精密光計測技術を用いた従来よりも遥かに低雑音な音場計測技術を実現しました。 |
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| どこが凄い |
音と雑音成分の物理的な特徴の違いに着目して、音に対する感度を最大化しつつ雑音を低減する差動型ミッドフリンジロック干渉計による音計測技術を提案しました。本技術を高安定レーザ技術と組み合わせることで、従来の方法に比べて計測雑音の振幅を1/30に低減しました。 |
| めざす未来 |
従来の音計測ではセンサとして用いるマイクロホン自身の大きさ・不安定さに起因する空間分解能・計測精度の限界が存在します。光学分野で培われた精密計測技術を応用することで、音空間の3次元計測、リモートセンシング、超高精度計測など音計測の飛躍的な進歩を実現させます。 |
[1] 石川憲治, 白木善史, 守谷健弘, 石澤淳, 日達研一, 小栗克弥, “光差動検出によるミッドフリンジロック干渉計の低雑音化,” 日本音響学会講演論文集, 2021.
[2] 石川憲治, 白木善史, 守谷健弘, 石澤淳, 日達研一, 小栗克弥, “ミッドフリンジロック干渉計によるシンプルかつ低雑音な光音響計測法,” 日本音響学会講演論文集, 2020.
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石川 憲治 （Kenji Ishikawa） メディア情報研究部 情報基礎理論研究グループ
Email: cs-openhouse-ml@hco.ntt.co.jp